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簡(jiǎn)要描述：北京冷熱沖擊壞境試驗(yàn)箱常用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠等行業(yè)產(chǎn)品及零配件，航天、國(guó)防工業(yè)、兵工業(yè)、半導(dǎo)體陶瓷、電子芯片IC及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的實(shí)際質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它作為理想的測(cè)試設(shè)備。
產(chǎn)品型號(hào)AP-CJ廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家更新時(shí)間2024-11-06訪 問(wèn) 量1800產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 愛(ài)佩科技/A-PKJ | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
北京冷熱沖擊壞境試驗(yàn)箱常用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠等行業(yè)產(chǎn)品及零配件，航天、國(guó)防工業(yè)、兵工業(yè)、半導(dǎo)體陶瓷、電子芯片IC及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的實(shí)際質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它作為理想的測(cè)試設(shè)備。
北京冷熱沖擊壞境試驗(yàn)箱尺寸型號(hào)選擇：
AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440
AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440
AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440
AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540
AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640
AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150
技術(shù)參數(shù)：
1溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃
2.外箱尺寸：以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍：+60℃～200℃；
4.升溫時(shí)間： +60℃～200℃≤30min；
5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍： -75～-10℃；
6.降溫時(shí)間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚
7.試驗(yàn)方式： 氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換
8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚
9.溫度偏差： ±2.0℃
10.溫度波動(dòng)度： ±0.5℃
11溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5分鐘
12.試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；
愛(ài)佩公司保證自家生產(chǎn)的性能指標(biāo)滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，顧客可根據(jù)需要可請(qǐng)第三方（具有資質(zhì)能力的技術(shù)質(zhì)量監(jiān)督部門(mén)）參與檢定驗(yàn)收，檢定結(jié)論以檢定部門(mén)的報(bào)告為準(zhǔn)。如有需求敬請(qǐng)隨時(shí)，：/
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